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電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)
簡(jiǎn)要描述：電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)系是集運(yùn)動(dòng)控制、數(shù)據(jù)采集、分析統(tǒng)計(jì)技術(shù)于一體的高科技產(chǎn)品，其核心是電腦控制之[觸摸屏點(diǎn)擊劃線控制系統(tǒng)]程序。本產(chǎn)品具有功能強(qiáng)、編程簡(jiǎn)單、操作方便、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。適用于CTP 觸摸屏、紅外屏、整機(jī)制造商（手機(jī)、平板電腦等）產(chǎn)品研發(fā)、產(chǎn)品檢測(cè)用。
產(chǎn)品型號(hào)：XD-6411B- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2025-10-13
- 訪 問(wèn) 量：4612
產(chǎn)品介紹
電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)儀器特點(diǎn)：
1. 客戶提供觸摸數(shù)控IC 之工作通信協(xié)議，即可采集、分析、統(tǒng)計(jì)紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線精度、靈敏度、坐標(biāo)抖動(dòng)、報(bào)點(diǎn)頻率、響應(yīng)時(shí)間等性能，客戶提供觸摸數(shù)控IC 之底層通信協(xié)議，即可完成信噪比測(cè)試測(cè)試，兼容多家品牌IC，如Cypress（賽普拉斯）、Atmel（愛(ài)*）、敦泰（Focaltech）、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、seni、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等；
2. 滿足CTP 屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試；
3. 運(yùn)動(dòng)軌跡及測(cè)試：方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能，只需于[教導(dǎo)程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡，任取二點(diǎn)可劃線，任取四點(diǎn)劃矩形，并可根據(jù)測(cè)試屏規(guī)格存儲(chǔ)運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用；
4. 強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能： 由于測(cè)試文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，不限組數(shù)，測(cè)試數(shù)據(jù)，方便調(diào)用；
5. 可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X、Y、Z 軸坐標(biāo)值，電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等；
6. 強(qiáng)大的測(cè)試軟件：軟件根據(jù)觸摸屏常用的測(cè)試方法，預(yù)置了多種測(cè)試方法，客戶只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L，選擇測(cè)試方法（如精度測(cè)試、線性度測(cè)試等）即可測(cè)試，無(wú)需每次編輯；
7. 機(jī)臺(tái)采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理，富有質(zhì)感；
8. XYZ 三軸采用日本松下伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)，日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，高速低噪聲，耐久使用；定位精準(zhǔn)，重復(fù)精度≤0.01mm 為業(yè)內(nèi)zui高；
9. 軟件精準(zhǔn)定位功能：可通過(guò)X1、X2、Y2 三個(gè)點(diǎn)精準(zhǔn)定位試樣，一次設(shè)定保存后，同規(guī)格樣品無(wú)需再次校對(duì)定位，效率更率，精度更高；
10. 雙工位輪流測(cè)試式設(shè)計(jì)，可選用真空吸附CTP 屏，加快了測(cè)試速度，節(jié)省換屏和夾裝時(shí)間；
11. 設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，充分考慮到人體工程易操作性，布局合理，將干擾源降到zui低。
電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)測(cè)試項(xiàng)目：
1. 滿足CTP 屏廠產(chǎn)線測(cè)試---更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC 之屏測(cè)試；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過(guò)WIFI 傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF測(cè)試報(bào)表；
2. 點(diǎn)擊精度測(cè)試---根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度；
3. 劃線線性度測(cè)試---支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差。可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；
4. 靈敏度測(cè)試---可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；
5. 坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；
6. 劃線可靠性測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象；
7. 信噪比測(cè)試---通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC 采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比（需IC 協(xié)議支持）；
8. 報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；
9. 響應(yīng)時(shí)間測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
10. 功耗測(cè)試---通過(guò)高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗（需IC 協(xié)議支持）；
11. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)功能，能快速的對(duì)采集回來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì)，實(shí)現(xiàn)圖形與數(shù)據(jù)鏈接，自動(dòng)生成各種測(cè)試報(bào)告，此報(bào)告格式可能要根據(jù)不同客戶要求改動(dòng)；
12. 軟件防呆能力、權(quán)限設(shè)置、一鍵式測(cè)試，操作簡(jiǎn)易，測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)（偏差值）自動(dòng)判定PASS OR FAIL。
電容觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)主要配置：
配件名稱 | 數(shù)量 | 用途 | 制造商 |
伺服馬達(dá) | 3臺(tái) | X-Y-Z 軸驅(qū)動(dòng) | 日本松下 |
精密靜音型導(dǎo)軌 | 4根 | X-Y-Z 軸滑動(dòng)及導(dǎo)向 | 日本THK |
精密滾珠螺桿 | 3根 | X-Y-Z 軸傳動(dòng) | 日本THK |
行程保護(hù)液壓緩沖器 | 7個(gè) | X-Y-Z 軸過(guò)沖保護(hù)緩沖 | 中國(guó)臺(tái)灣西捷克 |
行程感應(yīng)傳感器 | 9個(gè) | 感應(yīng)原點(diǎn)位置及X-Y-Z 軸限位 | 日本松下 |
緊急停止開關(guān)、電源開關(guān) | 2個(gè) | 用于操作安全控制 | 西門子APT |
運(yùn)動(dòng)控制卡（PCI） | 1個(gè) | 用于X-Y-Z 軸運(yùn)行控制 | 公司自產(chǎn) |
數(shù)據(jù)采集卡 | 1個(gè) | 用于CTP 數(shù)據(jù)采集 | 公司自產(chǎn) |
測(cè)頭 | 16pcs | Ø3～Ø15mm | 公司自產(chǎn) |
電腦 | 1臺(tái) | 用于系統(tǒng)控制 | 美國(guó)戴爾 |
電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)主要參數(shù)：
型號(hào) | XD-6411B |
測(cè)試樣品 | CTP 屏1個(gè)或2個(gè)（可以單獨(dú)測(cè)，也可以兩塊屏輪流測(cè)試） |
X 軸移動(dòng)范圍 | 0～480mm（約19"） |
Y 軸移動(dòng)范圍 | 0～300mm（約12"） |
Z 軸移動(dòng)范圍 | 0～50mm |
定位精度控制 | ±0.001mm（±0.00004"） |
X-Y 軸重復(fù)定位精度 | ≤0.01mm（0.0004"） |
X-Y 軸移動(dòng)速度 | 0～500mm/sec |
Z 軸移動(dòng)速度 | 0～200mm/sec |
Z 軸重復(fù)定位精度 | ±0.02mm |
一體式砝碼荷重 | 30g、150g、250g |
測(cè)頭直徑 | Ø3～Ø15mm可更換 |
模擬&數(shù)字供電電壓范圍 | DC1.2V～5V |
模擬&數(shù)字供電電壓精度 | ±0.02V |
功耗電流檢測(cè)范圍 | 0～500mA |
功耗電源檢測(cè)精度 | ±1mW |
數(shù)據(jù)采集頻率 | 100kHz、200kHz、400kHz可設(shè) |
通訊協(xié)議 | I2C總線、串口、USB（客戶提供通訊協(xié)議，我們制做通訊板采集數(shù)據(jù)） |
主機(jī)體積 | W950×D1050×H1520mm |
重量 | 約350Kg |
電源 | 1∮ AC220V 10A |
,電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)精度測(cè)試：
1. 測(cè)試方法：參照下圖所示的區(qū)域?qū)?3個(gè)圓形區(qū)域用接地的標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，測(cè)試觸摸要20次以上，每次觸摸100ms，然后抬起500ms。記錄下TP報(bào)出的坐標(biāo)，圖2中區(qū)域劃分成4×4，長(zhǎng)寬計(jì)算如圖所示（W-5）/4，青色為非邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5），藍(lán)色為邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13）。
2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±2mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。
,電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī),電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)抖動(dòng)測(cè)試：
1. 測(cè)試方法：參照上面精度測(cè)試中圖所示，對(duì)每個(gè)點(diǎn)用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，不支放置5S，記錄下坐標(biāo)。
2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±1.5mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。
電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)線性度測(cè)試：
1. 測(cè)試方法：參照下圖中左邊三個(gè)所示的路徑用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以5mm/S和50mm/S畫線，記錄下坐標(biāo)的偏離度，其中豎線路徑從左到右分別為豎1到豎5，從上到下為橫1到橫5，從左上角到右下角為左對(duì)角，從右上角到左下角為右對(duì)角。
2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：坐標(biāo)的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG，不超出的為OK
點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)靈敏度測(cè)試：
1. 測(cè)試方法：參照右圖對(duì)TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny，Nx=W/1mm，Ny=H/1mm，按所示的路徑有接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）以5mm/S畫線，觀察是否有斷線。
2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：若有斷線為NG，否則為OK。
電容屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)劃線測(cè)試：
1. 測(cè)試方法：參照下圖所示對(duì)TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位，用銅柱（具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以高速1S/點(diǎn)，中速1.5S/點(diǎn)，低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn)，其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘，再接著從頭開始，如此反復(fù)4小時(shí)，接著以中速進(jìn)行4小時(shí)，接著再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀察報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)超出范圍。
2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試過(guò)程中不應(yīng)有斷線。
